研究成果

太陽電池モジュールの電圧誘起劣化を簡便・低コストで抑制する方法を発明

 工学部 電気電子・情報工学科の大橋 史隆 助教らは,メガソーラー発電施設で最も普及している結晶シリコン系太陽電池モジュールの発電能力を短期に大幅に劣化させる現象である「電圧誘起劣化(Potential Induced Degradation)」(以下「PID」)を,簡便・低コストで抑制する方法を発明しました。大橋助教らは,太陽電池モジュールに液体ガラスで作製したガラス層を挿入し,セルを包む封止材(EVA)とカバーガラスの間にガラス層を挿入した場合,ガラス層がない場合と比べて,顕著なPID抑制効果を確認しました。また,ガラス層をカバーガラスの表面に挿入した場合でもPID抑制効果を確認しました。
 本発明は,太陽電池モジュールの生産工程におけるPID抑制加工や,設置済みのメガソーラー発電施設におけるPID抑制対策に繋がると期待されます。

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p型結晶シリコン系太陽電池モジュールの断面構造およ
びPIDの発生メカニズム(クリックすると拡大します)
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太陽電池モジュールに挿入した液体ガラスにより作製したガラス層
の配置(クリックすると拡大します)

本研究成果のポイント

  • 太陽電池モジュールに液体ガラスで作製したガラス層を挿入し,セルを包む封止材(EVA)とカバーガラスの間にガラス層を挿入した場合,ガラス層がない場合と比べて,顕著なPID抑制効果を確認した。
  • 本発明によるPID抑制技術は,太陽電池モジュールの部材や構造を大きく変えずに導入することができる。
  • 太陽光発電システムの寿命延長,発電コスト低減に直結し,太陽光発電の普及の一助となることが期待される。

詳しい研究内容について

メガソーラー発電施設の寿命を延ばし,発電コスト低減につながる太陽電池モジュールの電圧誘起劣化を簡便・低コストで抑制する方法を発明

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2019.03.14

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