工学部 電気電子・情報工学科の大橋 史隆 助教らは，メガソーラー発電施設で最も普及している結晶シリコン系太陽電池モジュールの発電能力を短期に大幅に劣化させる現象である「電圧誘起劣化（Potential Induced Degradation）」（以下「PID」）を，簡便・低コストで抑制する方法を発明しました。大橋助教らは，太陽電池モジュールに液体ガラスで作製したガラス層を挿入し，セルを包む封止材（EVA）とカバーガラスの間にガラス層を挿入した場合，ガラス層がない場合と比べて，顕著なPID抑制効果を確認しました。また，ガラス層をカバーガラスの表面に挿入した場合でもPID抑制効果を確認しました。
　本発明は，太陽電池モジュールの生産工程におけるPID抑制加工や，設置済みのメガソーラー発電施設におけるPID抑制対策に繋がると期待されます。

本研究成果のポイント

• 太陽電池モジュールに液体ガラスで作製したガラス層を挿入し，セルを包む封止材（EVA）とカバーガラスの間にガラス層を挿入した場合，ガラス層がない場合と比べて，顕著なPID抑制効果を確認した。
• 本発明によるPID抑制技術は，太陽電池モジュールの部材や構造を大きく変えずに導入することができる。
• 太陽光発電システムの寿命延長，発電コスト低減に直結し，太陽光発電の普及の一助となることが期待される。

詳しい研究内容について

メガソーラー発電施設の寿命を延ばし，発電コスト低減につながる太陽電池モジュールの電圧誘起劣化を簡便・低コストで抑制する方法を発明